超聲波探傷掃查顯示的幾種方法-飛泰

超聲波檢測(cè)設(shè)備接收到的超聲信號(hào)，需要通過一定的成像技術(shù)顯示在儀器上，以便操作人員較直觀的了解工件內(nèi)部的缺陷狀況。按照超聲信號(hào)的顯示方式，一般可將超聲成像技術(shù)分為A、B、C、D、S.型掃描顯示。

A 型顯示

A 型顯示方式是傳統(tǒng)的波形顯示，將超聲信號(hào)的幅度與傳播時(shí)間在坐標(biāo)圖中進(jìn)行繪制。X軸方向代表傳播時(shí)間，Y 軸方向代表信號(hào)的幅度，一般單位是 dB。

B、C、D 型掃描成像

在 A 掃描顯示基礎(chǔ)上，對(duì)接收到的超聲信號(hào)進(jìn)行圖像重構(gòu)，又相繼發(fā)展出 B、C、D 型超聲成像技術(shù)。B 掃描顯示的是與聲波傳輸方向平行，且與工件待測(cè)量表面垂直的剖面;C 掃描顯示的是工件的橫截面;D 掃描顯示的是與聲波傳輸方向和工件待測(cè)量表面都垂直的剖面。

相控陣技術(shù)和 S 型掃描成像

超聲相控陣技術(shù)是一種先進(jìn)的超聲波檢測(cè)技術(shù)，它是在相控陣?yán)走_(dá)技術(shù)的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的。相控陣探頭是由很多獨(dú)立的小晶片組成的探頭陣列，使用時(shí)探頭陣列中同時(shí)發(fā)射和接收多路脈沖，設(shè)備再對(duì)接收到的多路信號(hào)進(jìn)行分析。超聲相控陣設(shè)備在掃查時(shí)，可以在工件表面某個(gè)入射點(diǎn)進(jìn)行一定角度的扇形掃查，成像方式為扇形，因此稱為扇形掃描成像，又稱 S 掃描成像。